CASA發布SiC MOSFET功率循環試驗/結殼熱阻測試2項團體標準
由工業和信息化部電子第五研究所牽頭制定,遵循CASAS標準制定流程,經過標準起草小組會議討論、廣泛征求意見、委員會草案投票等流程,團體標準T/CASAS 015—2022《碳化硅金屬氧化物半導體場效應晶體管(SiC MOSFET)功率循環試驗方法》以及T/CASAS 016—2022《碳化硅金屬氧化物半導體場效應晶體管(SiC MOSFET)結殼熱阻瞬態雙界面測試方法》于2022年7月18日正式面向產業發布。
2項標準由工業和信息化部電子第五研究所、西安交通大學、南方電網科學研究院有限責任公司、比亞迪半導體股份有限公司、國網智能電網研究院有限公司、中國電子科技集團集團第五十五研究所等多家單位于2020年12月啟動標準預研工作,并于2021年4月正式立項。
T/CASAS 015—2022《碳化硅金屬氧化物半導體場效應晶體管(SiC MOSFET)功率循環試驗方法》規定了碳化硅金屬氧化物半導體場效應晶體管(SiC MOSFET)功率循環試驗方法,評價器件在承受規定應力的條件下是否符合規定的循環次數。對于提升SiC MOSFET器件的可靠性評價與分析技術能力,支撐SiC MOSFET器件的可靠性改進具有重要意義。
【主要起草單位】陳媛、賀致遠、來萍、路國光、姚天保、李金元、李堯圣、謝峰、成年斌、陳義強、黃云、劉奧、劉昌、徐新兵、吳海平、唐宏浩、劉偉鑫、李巍巍、王來利、喬良、徐瑞鵬。
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T/CASAS 016—2022《碳化硅金屬氧化物半導體場效應晶體管(SiC MOSFET)結殼熱阻瞬態雙界面測試方法》規定了碳化硅金屬氧化物半導體場效應晶體管(SiC MOSFET)結殼熱阻瞬態雙界面測試方法,適用于SiC MOSFET分立器件,以源極和漏極之間的電壓Vsd作為測試溫敏參數的結殼熱阻測試。
【主要起草單位】付志偉、侯波、周斌、陳思、楊曉鋒、陳義強、陳媛、來萍、黃云、路國光、劉奧、郭懷新、李巍巍、李金元、李堯圣、王來利、劉斯揚、楊家躍、崔益軍、唐宏浩、喬良、徐瑞鵬。
工業和信息化部電子第五研究所(中國賽寶實驗室),又名中國電子產品可靠性與環境試驗研究所,始建于1955年,是中國最早從事可靠性研究的權威機構。
實驗室可提供從材料到整機設備、從硬件到軟件直至復雜大系統的認證計量、試驗檢測、分析評價、數據服務、軟件評測、信息安全、技術培訓、標準信息、工程監理、節能環保、專用設備和專用軟件研發等技術服務。實驗室具有多項認證、檢測資質和授權,建立了良好的國際合作互認關系,可在世界范圍內開展認證、檢測業務,代表中國進行國際技術交流、標準和法規的制訂。同時,作為工業和信息化部的直屬單位,為部的行業管理和地方政府提供技術支撐,為電子信息企業提供技術支持與服務,每年服務企業過萬家。
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